ارائه خدمات جامع تحلیل و تفسیر مپینگ عنصری (Elemental Mapping) مبتنی بر طیفسنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS/EDAX) برای پروژههای تحقیقاتی و صنعتی در حوزههای مهندسی مواد، نانوفناوری و متالورژی.
ما در دیجی شیمی سرویس با ترکیب دانش فنی و درک عمیق از فرآیند تعامل الکترونها و ماده، تصاویر رنگی مپینگ شما را به اطلاعات دقیق درباره پراکندگی فضایی و ناهمگنیهای عنصری تبدیل میکنیم. چه برای ارزیابی جدایش فاز و چه برای کنترل کیفیت پوششهای سطحی، تیم متخصص ما آماده است تا با تحلیل الگوهای غلظت، به شما در شناسایی مشکلات ساختاری کمک کند.
- هدف آنالیز: ثبت وضعیت پراکندگی عناصر (نقشه غلظتی) روی سطح نمونه.
- مکانیسم: اسکن نقطهبهنقطه سطح نمونه توسط پرتو الکترونی و ثبت شدت سیگنال X-Ray هر عنصر در هر مختصات.
- خروجی: تولید نقشه رنگی (تصویر عنصری) که توزیع فضایی عناصر را نشان میدهد.
- کاربرد اصلی: تشخیص ناهمگنیهای ساختاری، شناسایی فازهای مختلف و بررسی پخش ذرات تقویتی.
- مقیاس: قابلیت بررسی کل سطح انتخابشده با وضوح بالا (برخلاف تحلیل نقطهای محدود).
- توانایی: تحلیل غلظت یا کمبود عناصر در بخشهای مختلف سطح نمونه.
- حالت پایه آنالیز مربوط به انجام آنالیز نقطه ای است.
- آمادهسازی سطح: سطح نمونه باید یکنواخت، صاف و فاقد آلودگی (مانند چربی یا ذرات معلق) باشد.
- رسانایی: در صورت عدم رسانایی کافی، روکشدهی مناسب (طلا یا کربن) برای جلوگیری از باردارشدگی سطح ضروری است.
- تنظیم ولتاژ: ولتاژ شتابدهنده باید بر اساس عدد اتمی عناصر هدف و عمق نفوذ مطلوب تنظیم شود.
- مدت زمان جمعآوری: مدت زمان کافی برای جمعآوری دادهها جهت کاهش نویز و ایجاد نقشههای واضح.
- فاصله کاری: حفظ فاصله کاری (WD) پایدار برای اطمینان از وضوح یکنواخت در کل نقشه.
- پایداری خلأ: پایداری خلأ محفظه برای حفظ کیفیت سیگنالهای X-Ray و جلوگیری از ایجاد لکه.
- عناصر تشکیل دهنده نمونه آنالیز mapping لازم است حتما در فرم ثبت درخواست آورده شود.
- حالت فیزیکی: جامد (بالک)،کاملا خشک، قطعه، پودر فشرده یا سطح آمادهشده. (نمونه های حاوی رطوبت و چربی پذیرش نمی گردد.)
- سطح آنالیز: سطح موردنظر برای آنالیز باید قابل دسترسی برای اسکن پرتو الکترونی باشد.
- ضخامت: نمونه نباید دارای ضخامت یا تخلخل ناهموار باشد که بر نفوذ الکترون و تولید سیگنال تأثیر بگذارد.
- تمیزی: سطح نمونه باید برای جلوگیری از خطای سیگنال، عاری از آلودگیهای محیطی باشد.
- ابعاد و شکل: ابعاد نمونه باید متناسب با نگهدارنده نمونه (Sample Holder) دستگاه میکروسکوپ الکترونی باشد.
- آمادهسازی خاص: در صورت نیاز به بررسی مقطع، نمونه باید مقطعزنی (Cross-section) شده و صیقلی شود.
MAPPING-EDS SAMX
قابلیت های این دستگاه :
آنالیز Map به همراه EDS انجام و ارسال خواهد شد.
مقدار ماده مورد نیاز :10 میلی گرم
عودت نمونه : ندارد(به جز نمونه قطعه)
نوع جواب دهی : ارائه فایل ورد
مدت زمان انجام آنالیز ۱۲ روز کاری
درباره آنالیز
در آنالیز EDS/EDAX، بخشی به نام Mapping وجود دارد که نقش آن ثبت وضعیت پراکندگی عناصر روی سطح نمونه است. وقتی پرتوی الکترونی روی نقاط مختلف تابانده میشود، آشکارساز EDS شدت سیگنال هر عنصر را در هر مختصات ثبت میکند و از کنار هم قرار گرفتن این دادهها، یک نقشه رنگی شکل میگیرد؛ نقشهای که نشان میدهد هر عنصر دقیقاً در کدام بخشها حضور پررنگتری دارد و چه الگوهایی از غلظت یا کمبود در سطح دیده میشود.
مپینگ در واقع نسخه تصویری همان تحلیل نقطهای EDS است، با این تفاوت که بهجای یک نقطه یا چند نقطه محدود، کل سطح با وضوح بالا بررسی میشود. همین ویژگی، آن را به ابزاری قدرتمند برای تشخیص ناهمگنیهای ساختاری، شناسایی فازهای مختلف، بررسی پخش ذرات تقویتی و تحلیل کیفیت فرآیندهای تولید تبدیل کرده است.
شرایط خاص و نکات مهم آنالیز MAPPING
در آنالیز Mapping، دقت نهایی کاملاً وابسته به شرایطی است که نمونه و دستگاه در آن قرار میگیرند. کوچکترین اختلال در خلأ، تنظیمات پرتو یا کیفیت آمادهسازی سطح میتواند باعث ایجاد نویز، تفکیکپذیری پایین یا نقشههای گمراهکننده شود. از آنجا که Mapping بر اساس اسکن پیوسته و ثبت شدت سیگنالهای عنصری در هزاران نقطه انجام میشود، پایداری شرایط آزمون اهمیت زیادی پیدا میکند؛ مسئلهای که معمولاً در تحلیلهای نقطهای کمتر به چشم میآید. به همین دلیل، پیش از شروع نقشهبرداری عنصری باید مجموعهای از ملاحظات فنی رعایت شود تا خروجی نهایی قابل اتکا باشد.
- کیفیت سطح نمونه باید یکنواخت و فاقد آلودگی، چربی و ذرات معلق باشد تا سیگنالهای ثبتشده دچار خطا نشوند.
- ضخامت یا تخلخل نمونه نباید بهگونهای باشد که الکترونها بهصورت ناهموار نفوذ کنند و بخشی از نقشه دچار کمنورشدگی شود.
- ولتاژ شتابدهنده باید بر اساس نوع ماده، عدد اتمی عناصر و عمق نفوذ مطلوب انتخاب شود تا همزمان تفکیک مناسب و شدت سیگنال کافی ایجاد شود.
- فاصله کاری (Working Distance) باید پایدار بماند، زیرا کوچکترین تغییر در ارتفاع نمونه باعث تغییر واضح در وضوح نقشه خواهد شد.
- مدت زمان جمعآوری دادهها باید متناسب با تعداد عناصر هدف تعیین شود تا نویز کاهش یابد و نقشهها وضوح کافی داشته باشند.
- اگر نمونه رسانایی کافی ندارد، روکشدهی مناسب با طلا یا کربن ضروری است تا از باردارشدگی سطح جلوگیری شود.
- پایداری خلأ داخل محفظه باید ثابت باشد، چراکه افت خلأ میتواند باعث کاهش کیفیت سیگنالهای X-Ray و ایجاد لکه در نقشه شود.
- تنظیم درست نسبت بزرگنمایی با مساحت موردنظر اهمیت دارد؛ بزرگنمایی بیش از حد یا کمتر از حد میتواند باعث گمشدن الگوی پراکندگی واقعی شود.
نحوه انجام آنالیز MAPPING
ابتدا نمونه در محفظه میکروسکوپ الکترونی قرار میگیرد و پس از رسیدن دستگاه به خلأ پایدار، ناحیهای که قرار است نقشهبرداری شود انتخاب میشود. در این مرحله، اپراتور ولتاژ شتابدهنده، شدت پرتو، بزرگنمایی و فاصله کاری را طوری تنظیم میکند که سیگنالهای X-Ray با کیفیت کافی از سطح خارج شوند.
پس از مشخص شدن عناصر هدف، دستگاه سطح انتخابشده را نقطهبهنقطه اسکن میکند و در هر مختصات شدت پرتوهای مشخصه را ثبت میکند. دادههای جمعآوریشده در نهایت بهصورت یک تصویر رنگی بازسازی میشوند؛ تصویری که برای هر عنصر رنگ مجزایی دارد و نشان میدهد آن عنصر در کدام بخشها غلظت بیشتری دارد.
دریافت مشاوره و ثبت درخواست آنالیز
برای شروع، فرم زیر را تکمیل کنید. کارشناسان ما در کوتاهترین زمان ممکن با شما تماس خواهند گرفت.