ارائه خدمات دقیق و جامع در زمینه آنالیز SEM (میکروسکوپ الکترونی روبشی) جهت بررسی سطح، مورفولوژی و ترکیب شیمیایی مواد در پروژه‌های تحقیقاتی، صنعتی و دانشگاهی.

ما در دیجی شیمی سرویس با بهره‌گیری از تجهیزات پیشرفته و تیم متخصص، سطح مواد در ابعاد میکرو و نانو مورد مطالعه قرار می‌گیرد تا ریزساختار، عیوب، پوشش‌ها و تغییرات سطحی با بالاترین وضوح ممکن شناسایی شود.
چه در بررسی شکستگی‌های فلزی، چه در تحلیل نانوساختارها یا کنترل کیفیت پوشش‌ها، تیم ما آماده است تا داده‌های خام شما را به تصاویر و اطلاعات دقیق و تفسیرپذیر تبدیل کند.

خدمات تحلیل نتایج آنالیز SEM
  • تصویربرداری سطح: نمایش مورفولوژی، بافت، و ناهمواری‌های سطح با وضوح نانومتری.
  • تصویر سه‌بعدی سطح (Topography): ایجاد تصویری با عمق میدان بالا از شکل و مورفولوژی سه‌بعدی سطح نمونه.
  • بزرگنمایی بالا: قابلیت بزرگنمایی از 20 تا بیش از 500000 برابر (بسته به مدل).
  • تحلیل مورفولوژی: بررسی شکل، اندازه و توزیع ذرات، مرز دانه‌ها و ساختارهای شکستگی.
  • آنالیز عنصری (EDS): تعیین ترکیب شیمیایی و توزیع عناصر در نقاط و نواحی خاص سطح.
  • بررسی عیوب: شناسایی ترک‌ها، تخلخل و لایه‌های پوشش‌دهی در مقیاس میکرونی.
  • پوشش‌دهی (Coating): نمونه‌های نارسانا (پلیمرها، سرامیک‌ها) باید با لایه‌ای از طلا یا کربن پوشانده شوند.
  • خلأ بالا: دستگاه باید در شرایط خلأ مناسب قرار گیرد تا الکترون‌ها پراکنده نشوند.
  • خشک و تمیز بودن: نمونه باید کاملاً خشک، عاری از رطوبت و روغن باشد.
  • آماده‌سازی پودر: توزیع یکنواخت ذرات پودری روی نگهدارنده و چسب کربنی.
  • تنظیم ولتاژ و آشکارساز: کنترل ولتاژ شتاب‌دهنده و نوع آشکارساز (SE/BSE) برای بهینه‌سازی کنتراست.
  • مناسب برای سطح: SEM فقط سطح را نشان می‌دهد؛ برای داخل ذرات از TEM استفاده کنید.
  • حالت فیزیکی: قطعه بالک، پودر، یا فیلم نازک.
  • ابعاد مجاز: قطعه کوچک‌تر از حدود 1cm × 1cm و ارتفاع کم (مطابق با ابعاد اتاقک دستگاه).
  • سطح آماده‌شده: برای تحلیل ساختارهای خاص، سطح ممکن است نیاز به پولیش یا اچینگ داشته باشد.
  • جنس نگهدارنده: نمونه باید روی سطح آلومینیومی (Stub) یا نگهدارنده مخصوص نصب شود.
  • نارسانا بودن: در صورت نارسانا بودن، حتماً نیاز به پوشش‌دهی (Coating) دارد.

SEM VEGA3

قابلیت های این دستگاه : 
این دستگاه مجهز به انالیز عنصری نیست .

 بزرگ نمایی: حداکثر تا 60000هزار برابر

مقیاس قابل ارائه در تصاویر : 500µm,200µm,100µm 50µm,20µm,10µm ,5µm ,2µm ,1µm

مقدار ماده مورد نیاز : 5 میلی گرم / 1*1 سانتی متر 

عودت نمونه : ندارد(به جز نمونه قطعه)

نوع جواب دهی : ارائه 6 تصویر

مدت زمان تحلیل نتایج : 10 روزکاری پس از دریافت نتیجه آزمون 

درباره آنالیز

آنالیز SEM

آنالیز SEM یا میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscopy) یکی از دقیق‌ترین روش‌های مشاهده و بررسی سطح مواد در مقیاس میکروسکوپی است که برای مطالعه ساختار، مورفولوژی و ترکیب سطحی نمونه‌ها به کار می‌رود. در این روش، پرتو باریکی از الکترون‌ها به سطح نمونه تابانده می‌شود و الکترون‌های بازتاب‌شده یا گسیل‌شده از سطح توسط آشکارسازها جمع‌آوری می‌گردند.

نتیجه این فرآیند، تصویری با وضوح بسیار بالا از جزئیات سطحی است که می‌تواند تا چند نانومتر دقت داشته باشد. از آنالیز SEM در حوزه‌های مختلفی مانند متالورژی، نانوتکنولوژی، علم مواد، زیست‌شناسی، زمین‌شناسی و حتی باستان‌شناسی برای شناسایی ریزساختار، شکستگی‌ها، ذرات آلاینده یا حتی فازهای مختلف ماده استفاده می‌شود. این تکنیک علاوه بر تصویر، در صورت اتصال به سیستم EDS یا WDS قادر است ترکیب شیمیایی نقاط خاصی از سطح را نیز مشخص کند و به همین دلیل یکی از ابزارهای کلیدی در آزمایشگاه‌های تحقیقاتی و صنعتی به شمار می‌رود. در خصوص کاربردها و امکانات آن نکاتی را در ادامه ذکر و بازگو خواهیم کرد.

آزمون SEM

آنالیز SEM یا میکروسکوپ الکترونی روبشی یکی از پرکاربردترین روش‌های بررسی ساختار و ویژگی‌های سطحی مواد است. در این تکنیک، به جای نور از پرتو الکترونی برای تشکیل تصویر استفاده می‌شود. به همین دلیل تصاویر با جزئیات بسیار بالا و بزرگنمایی چندصد هزار برابری قابل مشاهده هستند. این روش برای مطالعه مورفولوژی، اندازه ذرات و ناهمواری‌های سطحی نمونه‌ها کاربرد گسترده‌ای دارد.

شرایط خاص و نکات مهم آنالیز SEM

برای افزایش دقت نتایج و جلوگیری از بروز مشکلات در فرآیند تصویربرداری، لازم است نمونه‌های ارسالی مطابق با الزامات دستگاه SEM آماده شوند. رعایت موارد زیر پیش از ارسال نمونه ضروری است:

  • مناسب بودن اندازه ذرات: دستگاه SEM برای بررسی ذرات نسبتاً درشت کاربرد دارد. در صورتی که نمونه دارای نانوذرات باشد، استفاده از FESEM گزینه مناسب‌تری خواهد بود.
  • خشک بودن نمونه: نمونه‌ها باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه رطوبت یا چربی باشند. نمونه‌های مرطوب یا چرب قابل پذیرش نیستند و برای این دسته از نمونه‌ها استفاده از ESEM توصیه می‌شود.
  • آماده‌سازی نمونه: پوشش‌دهی طلا به‌عنوان بخشی از فرآیند آماده‌سازی انجام می‌شود، اما سایر مراحل موردنیاز بر عهده متقاضی است.
  • انجام آنالیز EDS: به‌منظور شناسایی و تعیین عناصر تشکیل‌دهنده نمونه، انجام آنالیز EDS در کنار تصویربرداری ضروری است.
  • تعداد تصاویر خروجی: از هر نمونه معمولاً ۶ تصویر میکروسکوپی در بزرگنمایی‌های مختلف تهیه و ارائه می‌شود.

توانایی ها آنالیز SEM

در درجه اول باید بدانیم که آنالیز SEM به‌عنوان یکی از قدرتمندترین ابزارهای میکروسکوپی، توانایی‌های متنوعی در شناسایی و بررسی ساختار مواد دارد. این روش تصویر دقیقی از سطح نمونه ارائه می‌دهد و اطلاعات ارزشمندی درباره بافت، مورفولوژی، زبری و حتی ترکیب شیمیایی در اختیار پژوهشگر می‌گذارد. دقت بالا، سرعت تحلیل و قابلیت بررسی انواع مواد از فلزات تا پلیمرها، باعث شده این آنالیز جایگاه ویژه‌ای در تحقیقات علمی و صنعتی داشته باشد.

توانایی‌های آنالیز SEM:

  • نمایش سطح مواد با بزرگنمایی بسیار بالا و وضوح نانومتری
  • بررسی شکل، اندازه و توزیع ذرات در نمونه‌های پودری یا لایه‌ای
  • مشاهده ساختارهای شکستگی، ترک، تخلخل و ناهمواری‌های سطحی
  • امکان اتصال به سیستم EDS برای شناسایی ترکیب عنصری نقاط مختلف
  • مقایسه ریزساختار قبل و بعد از فرآیندهای حرارتی یا مکانیکی
  • بررسی لایه‌های پوشش‌دهی و ضخامت آن‌ها در صنایع مختلف
  • ارزیابی یکنواختی، چسبندگی و کیفیت سطوح در مواد پیشرفته
  • مطالعه پدیده‌های خوردگی، اکسیداسیون و تغییرات سطحی در زمان آزمون

میکروسکوپ الکترونی روبشی آنالیز SEM

آنالیز SEM یا میکروسکوپ الکترونی روبشی یکی از مهم‌ترین روش‌های بررسی ساختار سطحی و مورفولوژی مواد به شمار می‌رود. این تکنیک با بهره‌گیری از پرتو الکترونی، محدودیت قدرت تفکیک میکروسکوپ‌های نوری را برطرف کرده و امکان مشاهده جزئیات بسیار ریز را فراهم می‌کند. در این فرآیند، سطح نمونه توسط الکترون‌ها اسکن شده و سیگنال‌های حاصل از برهم‌کنش پرتو با ماده برای تشکیل تصویر جمع‌آوری می‌شوند.

مهم‌ترین سیگنال‌های مورد استفاده شامل الکترون‌های ثانویه و الکترون‌های برگشتی هستند. الکترون‌های ثانویه اطلاعات دقیقی از لایه‌های نزدیک سطح ارائه می‌دهند، در حالی که الکترون‌های برگشتی از عمق بیشتری خارج شده و برای بررسی ویژگی‌های ساختاری کاربرد دارند.

آنالیز SEM بررسی و مطالعه مورفولوژی و سطح مواد

این روش به پژوهشگران اجازه می‌دهد شکل، اندازه، زبری، تخلخل و نحوه توزیع ذرات را به‌صورت دقیق مشاهده و تحلیل کنند. از طریق تصاویر حاصل از SEM، می‌توان ساختارهای شکستگی، حفره‌ها، مرز دانه‌ها و حتی اثرات فرآیندهای مکانیکی یا حرارتی روی سطح را شناسایی کرد.

در صنایع مختلف مانند متالورژی، سرامیک، پلیمر و نانوتکنولوژی، بررسی مورفولوژی سطح با SEM برای کنترل کیفیت، تحلیل سایش یا بررسی چسبندگی لایه‌های پوشش‌دهی اهمیت فراوانی دارد. این روش، تصویری عینی و چندبعدی از وضعیت واقعی سطح ارائه می‌دهد و پایه‌ای مطمئن برای درک رفتار فیزیکی و شیمیایی مواد فراهم می‌آورد.

آنالیز SEM بررسی و مطالعه مورفولوژی و سطح مواد

نحوه انجام آنالیز SEM

برای اجرای موفق آنالیز SEM، لازم است پیش از شروع آزمون، شرایط و آماده‌سازی‌های اولیه با دقت انجام شود تا تصویر نهایی از بالاترین کیفیت و دقت برخوردار باشد.

پیش‌نیازهای انجام آنالیز SEM:

  1. نمونه باید خشک، تمیز و عاری از رطوبت یا آلودگی سطحی باشد.
  2. در صورت نارسانا بودن، لازم است با لایه‌ای نازک از طلا یا کربن پوشش داده شود.
  3. ابعاد نمونه باید با اتاقک دستگاه سازگار باشد (معمولاً کمتر از ۱×۱ سانتی‌متر).
  4. برای نمونه‌های پودری، توزیع یکنواخت روی چسب کربنی الزامی است.
  5. فشار و شرایط خلأ دستگاه باید پیش از شروع آنالیز تنظیم گردد.

نحوه انجام آنالیز:

در این روش، نمونه آماده‌شده درون محفظه دستگاه SEM قرار می‌گیرد و پس از ایجاد خلأ، پرتو باریکی از الکترون‌ها با انرژی مشخص به سطح آن تابانده می‌شود. الکترون‌های برخوردکننده باعث برانگیختگی اتم‌های سطحی و گسیل الکترون‌های ثانویه می‌شوند که توسط آشکارساز جمع‌آوری و به سیگنال تصویری تبدیل می‌گردند.

این تصویر، ساختار سطح را با وضوح بسیار بالا نشان می‌دهد. اپراتور می‌تواند با تغییر بزرگنمایی، زاویه دید، ولتاژ شتاب‌دهنده و نوع آشکارساز، جزئیات مختلف سطح را مشاهده و تحلیل کند. در صورت اتصال سیستم EDS، آنالیز عنصری نیز همزمان انجام شده و اطلاعات شیمیایی هر نقطه از سطح به‌دست می‌آید.

نحوه تحلیل تصاویر SEM

تحلیل تصاویر SEM فرآیندی دقیق برای استخراج اطلاعات کمی و کیفی از سطح نمونه است. در این تحلیل، ابتدا باید به کنتراست و رزولوشن تصویر توجه کرد تا جزئیات واقعی ساختار مشخص شود. سپس با بررسی ویژگی‌هایی مانند شکل ذرات، اندازه، نحوه توزیع، زبری سطح، ترک‌ها و فازهای مختلف، می‌توان درک عمیقی از ریزساختار ماده به دست آورد.

معمولاً برای اندازه‌گیری دقیق ابعاد ذرات از نرم‌افزارهایی مانند ImageJ یا Digimizer استفاده می‌شود که امکان اندازه‌گیری میانگین اندازه، توزیع و نسبت سطح به حجم ذرات را فراهم می‌کنند. در تحلیل‌های پیشرفته‌تر، تصاویر SEM همراه با نقشه‌برداری EDS مورد استفاده قرار می‌گیرند تا علاوه بر ظاهر سطح، ترکیب شیمیایی نقاط مختلف نیز مشخص شود. در این بین، مقایسه تصاویر در بزرگنمایی‌های متفاوت و بررسی همگنی سطح، معیارهایی برای ارزیابی کیفیت و یکنواختی ماده فراهم می‌آورد.

کاربردهای آنالیز SEM

کاربردهای آنالیز SEM عبارتند از:

  • تصویربرداری از سطوح نمونه در بزرگنمایی‌های بسیار بالا و مشاهده جزئیات در مقیاس نانومتری.
  • بررسی نمونه‌های متالوگرافی با دقتی فراتر از میکروسکوپ‌های نوری و تحلیل ریزساختار مواد.
  • مطالعه سطوح شکست، ترک‌ها و نواحی اچ‌شده برای شناسایی عوامل خرابی و شکست قطعات.
  • ارزیابی ویژگی‌های کریستالوگرافی، دانه‌بندی، فازهای رسوبی و ساختارهای دندریتی.
  • تعیین ترکیب عنصری مواد با استفاده از آشکارساز EDS یا EDAX.
  • شناسایی ذرات، آخال‌ها و نواحی با ترکیب شیمیایی متفاوت در ابعاد چند میکرونی.
  • بررسی آثار سایش، پدیده‌های خوردگی و فازهای ایجادشده روی سطح مواد.
  • تحلیل قطعات نیمه‌هادی به‌منظور کنترل کیفیت، بررسی عملکرد و شناسایی علت خرابی یا نقص در طراحی.

مشخصات دستگاه آنالیز SEM

دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) از اجزایی دقیق و هماهنگ تشکیل شده است که هرکدام نقشی کلیدی در تولید تصویر با وضوح بالا دارند. این تجهیزات به کمک پرتو الکترونی و آشکارسازهای حساس، امکان مشاهده ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتری را فراهم می‌کنند.

بخش دستگاهوظیفه
منبع الکترونی (Electron Gun)تولید پرتو الکترونی با انرژی و شدت کنترل‌شده
لنزهای الکترومغناطیسیمتمرکز کردن و هدایت پرتو الکترونی به نقطه مورد نظر سطح
محفظه نمونه (Sample Chamber)نگهداری نمونه در شرایط خلأ بالا برای جلوگیری از پراکندگی الکترون‌ها
سیستم خلأ (Vacuum System)ایجاد فشار پایین برای عبور دقیق پرتو الکترونی
آشکارساز الکترون ثانویه (SE Detector)ثبت الکترون‌های گسیل‌شده از سطح برای تولید تصویر سه‌بعدی
آشکارساز الکترون بازتابی (BSE Detector)شناسایی تفاوت چگالی عناصر و نمایش کنتراست ترکیبی
سیستم EDS یا WDSتحلیل ترکیب شیمیایی و شناسایی عناصر موجود در نقاط مختلف
سیستم کنترل و نرم‌افزارتنظیم ولتاژ، بزرگنمایی، تمرکز و پردازش تصاویر خروجی
بزرگنمایی (Magnification)از ۲۰ تا بیش از ۵۰۰٬۰۰۰ برابر بسته به مدل دستگاه
رزولوشن تصویربین ۱ تا ۵ نانومتر برای مدل‌های پیشرفته

مشخصات فنی دستگاه آنالیز SEM

دستگاه SEM یکی از تجهیزات مورد استفاده برای تصویربرداری میکروسکوپی از ساختار سطحی مواد است که توان بزرگنمایی تا ۶۰ هزار برابر را فراهم می‌کند. این دستگاه فاقد قابلیت آنالیز عنصری بوده و تنها نمونه‌های کاملاً خشک را می‌پذیرد. برای انجام آزمون، حدود ۵ میلی‌گرم نمونه یا قطعه‌ای به ابعاد ۱×۱ سانتی‌متر کافی است. نتایج به‌صورت ۶ تصویر در مقیاس‌های مختلف ارائه می‌شود، نمونه بازگردانده نمی‌شود و زمان آماده‌سازی گزارش معمولاً حدود ۱۰ روز کاری است.

انواع آنالیز SEM

معمولاً SEM بر اساس نوع سیگنال، نوع آشکارساز یا روش تصویربرداری به چند دسته اصلی تقسیم می‌شود:

  1. تصویربرداری با الکترون‌های ثانویه (SE Imaging): در این روش از الکترون‌های ثانویه تولیدشده در نزدیکی سطح نمونه استفاده می‌شود. تصاویر حاصل، جزئیات بسیار خوبی از توپوگرافی و ناهمواری‌های سطح ارائه می‌دهند و رایج‌ترین نوع تصویربرداری در SEM هستند.
  2. تصویربرداری با الکترون‌های برگشتی (BSE Imaging): این روش از الکترون‌های برگشتی استفاده می‌کند و برای تشخیص تفاوت ترکیب شیمیایی فازهای مختلف کاربرد دارد. نواحی دارای عناصر سنگین‌تر معمولاً روشن‌تر دیده می‌شوند.
  3. آنالیز عنصری EDS یا EDX: در این تکنیک، پرتوهای ایکس مشخصه تولیدشده از نمونه بررسی می‌شوند تا نوع و درصد تقریبی عناصر موجود در سطح مشخص شود. EDS یکی از متداول‌ترین آنالیزهای مکمل SEM است.
  4. آنالیز WDS: روشی پیشرفته‌تر از EDS برای شناسایی عناصر است که دقت و تفکیک انرژی بالاتری دارد و برای اندازه‌گیری عناصر با غلظت کم مناسب‌تر است.
  5. نقشه‌برداری عنصری (Elemental Mapping): در این روش توزیع عناصر مختلف روی سطح نمونه به‌صورت نقشه رنگی نمایش داده می‌شود و معمولاً با EDS یا WDS انجام می‌گیرد.
  6. آنالیز خطی (Line Scan): تغییرات غلظت عناصر در امتداد یک خط مشخص روی نمونه بررسی می‌شود. این روش برای مطالعه مرز دانه‌ها، پوشش‌ها و لایه‌های مختلف کاربرد دارد.
  7. آنالیز نقطه‌ای (Point Analysis): ترکیب شیمیایی یک نقطه یا ناحیه بسیار کوچک از نمونه اندازه‌گیری می‌شود.
  8. FESEM (Field Emission SEM): نوع پیشرفته SEM است که از تفنگ نشر میدانی استفاده می‌کند و برای تصویربرداری از نانوساختارها و ذرات بسیار ریز با قدرت تفکیک بالاتر به کار می‌رود.
  9. ESEM (Environmental SEM): امکان تصویربرداری از نمونه‌های مرطوب، زیستی یا غیررسانا را بدون نیاز به خلأ بسیار بالا فراهم می‌کند.
  10. Cryo-SEM: نمونه در دمای بسیار پایین منجمد شده و سپس تصویربرداری انجام می‌شود. این روش برای نمونه‌های زیستی، مواد غذایی و هیدروژل‌ها کاربرد فراوانی دارد.

تفسیر و خدمات آنالیز SEM

تحلیل و تفسیر مدل‌های SEM یا مدل‌سازی معادلات ساختاری، یکی از روش‌های پیشرفته آماری برای بررسی ارتباطات میان متغیرهای مختلف در یک چارچوب مفهومی است. این رویکرد به پژوهشگران کمک می‌کند تا روابط مستقیم و غیرمستقیم بین متغیرهای پنهان و آشکار را ارزیابی کنند و میزان تأثیر هر عامل را بر سایر متغیرها بسنجند. در این روش، داده‌های جمع‌آوری‌شده با یک مدل نظری مقایسه می‌شوند تا میزان برازش مدل مشخص شود. نتایج حاصل از SEM امکان آزمون فرضیه‌ها، شناسایی مسیرهای اثرگذاری و درک بهتر سازوکارهای حاکم بر پدیده‌های مورد مطالعه را فراهم می‌کند.

مزایای تست SEM

مزایای آنالیز SEM عبارتند از:

  • ارائه تصاویر با وضوح و بزرگنمایی بسیار بالا در مقیاس میکرو و نانو.
  • امکان مشاهده دقیق مورفولوژی، زبری و ناهمواری‌های سطح نمونه.
  • عمق میدان زیاد و نمایش ساختار سطح با نمای شبه‌سه‌بعدی.
  • قابلیت انجام آنالیز عنصری و تعیین ترکیب شیمیایی نمونه با استفاده از آشکارسازهای EDS و WDS.
  • مناسب برای بررسی طیف گسترده‌ای از مواد شامل فلزات، سرامیک‌ها، پلیمرها، کامپوزیت‌ها و برخی نمونه‌های زیستی.
  • نیاز به آماده‌سازی نسبتاً ساده در بسیاری از کاربردها.
  • سرعت مناسب در تصویربرداری و جمع‌آوری داده‌ها.
  • امکان شناسایی عیوب سطحی، ترک‌ها، سایش، خوردگی و ناپیوستگی‌های ریز.
  • قابلیت تهیه نقشه توزیع عناصر و انجام آنالیز نقطه‌ای یا خطی روی سطح نمونه.
  • کاربرد گسترده در کنترل کیفیت، تحقیقات دانشگاهی، مهندسی مواد و تحلیل شکست قطعات.

سخن پایانی

آنالیز SEM یکی از دقیق‌ترین و پرکاربردترین روش‌های بررسی ریزساختار مواد است که امکان مشاهده جزئیات سطحی را در مقیاس نانومتری فراهم می‌سازد. این روش با ترکیب سرعت بالا، وضوح بی‌نظیر و قابلیت اتصال به سیستم‌های تحلیلی مانند EDS، به پژوهشگران کمک می‌کند تا ساختار، ترکیب و رفتار سطحی مواد را با دقتی علمی و قابل اعتماد تحلیل کنند.

از مهندسی مواد و الکترونیک گرفته تا زیست‌شناسی و زمین‌شناسی، SEM نقش محوری در شناخت ویژگی‌های فیزیکی و شیمیایی نمونه‌ها دارد. دقت و تنوع کاربرد آن باعث شده که در هر آزمایشگاه تحقیقاتی یا صنعتی، به‌عنوان ابزاری ضروری برای درک عمیق‌تر از ماهیت مواد شناخته شود.

مشخصات دستگاه آنالیز SEM

سوالات متداول

آیا نمونه من نیاز به پوشش‌دهی طلا دارد؟

اگر نمونه شما نارسانا باشد، برای جلوگیری از تجمع بار الکتریکی و بهبود وضوح تصویر باید با لایه‌ای نازک از طلا یا پالادیوم پوشش داده شود.

برای نمونه من آنالیز FESEM مناسب‌تر است یا SEM؟

در صورت نیاز به بزرگنمایی بالاتر و مشاهده جزئیات نانومتری، آنالیز FESEM انتخاب دقیق‌تر و پیشرفته‌تری نسبت به SEM معمولی است.

می‌خواهم داخل ذرات خود را مشاهده کنم، آیا آنالیز SEM مناسب است؟

خیر، SEM فقط سطح نمونه را نشان می‌دهد؛ برای مشاهده ساختار داخلی باید از روش‌هایی مانند TEM استفاده کنید.

چه مقدار نمونه باید بفرستم و ابعاد آن چگونه باید باشد؟

معمولاً چند میلی‌گرم از پودر یا قطعه‌ای کوچک در ابعاد حدود ۱×۱ سانتی‌متر برای انجام آنالیز کافی است.

اگر از نمونه‌ام چند آنالیز می‌خواهم، آیا باید برای هرکدام جداگانه بفرستم؟

بله، بهتر است برای هر نوع آنالیز نمونه‌ای مجزا ارسال شود تا در فرایند آماده‌سازی یا تخریب نمونه، نتایج سایر آزمون‌ها تحت تأثیر قرار نگیرد.

چه قدر نمونه باید بفرستم و ابعاد نمونه من چگونه باید باشد؟

برای انجام آنالیز، در نمونه‌های پودری معمولاً حدود ۱۰ میلی‌گرم ماده کافی است. همچنین، در مورد نمونه‌های حجیم یا توده‌ای، بهتر است ابعاد قطعه از ۲×۲ سانتی‌متر تجاوز نکند و در حالت ایده‌آل، اندازه‌ای در حدود ۱×۱ سانتی‌متر داشته باشد.

از نمونه من چند آنالیز می خواهم گرفته شود. آیا باید نمونه ها را برای هر آنالیز جداگانه بفرستم؟

برای جلوگیری از اشتباه در فرآیند آزمایش، لازم است مقدار موردنیاز هر آزمون را در ظرفی مجزا قرار داده و پیش از ارسال، نمونه‌ها را به‌طور دقیق کدگذاری و برچسب‌گذاری کنید.

انتخاب گزینه دیسپرس شدن چه مزیتی برای نمونه من دارد؟

در نمونه‌های پودری نانومتری، دیسپرس و سونیکیشن به کاهش آگلومره شدن ذرات کمک می‌کند. با این حال، چون تصویربرداری روی نمونه خشک انجام می‌شود، مشاهده مقداری تجمع ذرات در تصاویر SEM طبیعی است.

چگونه می توانم اندازه ذرات را خودم محاسبه کنم؟

برای تحلیل و اندازه‌گیری ویژگی‌های تصاویر SEM می‌توان از نرم‌افزارهایی مانند ImageJ استفاده کرد.

دریافت مشاوره و ثبت درخواست آنالیز

برای شروع، فرم زیر را تکمیل کنید. کارشناسان ما در کوتاه‌ترین زمان ممکن با شما تماس خواهند گرفت.

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *